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高通企业总裁第三次到国家发展改革委接受反垄断调查
  来源:国家发展改革委       日期:2014-07-14     【字号 大  
 

  7月11日,美国高通企业总裁Derek Aberle第三次率团队到国家发展改革委,就反垄断调查的有关问题交换意见并接受调查询问。

  价格监督检查与反垄断局许昆林局长、卢延纯副巡视员与Derek Aberle总裁就高通企业涉嫌违反我国《反垄断法》的情况及解决问题的路径深入、坦率地交换了意见。

  同时,高通企业授权副总裁Fabian Gonell等人接受了案件调查人员的调查询问。调查人员重点就以整机作为计算许可费的基础、将标准必要专利与非标准必要专利捆绑许可、要求被许可人进行免费反许可、对过期专利继续收费、将专利许可与销售芯片进行捆绑、拒绝对芯片生产企业进行专利许可以及在专利许可和芯片销售中附加不合理的交易条件等涉嫌违法行为,进行了现场调查并制作询问笔录。

 
 
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